超微量天平與（yǔ）微量分析天平都是高（gāo）精度稱量儀（yí）器，廣泛應用於科研、製藥等（děng）領域。以下是它們的具體介紹：
超微量天平
定義：是一種高精度稱量儀器，讀數（shù）精度精確至小數點後七位（0.1µg），可準確稱量最少為 30µg 的樣品。
特點：配備高度靈敏的稱量（liàng）單元，能極為準確地稱量微克（kè）量程的物（wù）質。具有智能質量保證功能，可主動監控天平狀態。部（bù）分超微量天平還具備（bèi）免觸摸操作功能，能降低交叉汙染風險。
應（yīng）用：主要用於排放物測試、灰化或焚燒中的微粒物質稱量（liàng）、塗層測量等。
微量分析天平
定義：是微量天平和分析天平的混合體，讀數（shù）精度精確至（zhì）小數點後六位（1µg）。
特點：額外配備一個內部防風（fēng）罩，可保護（hù）高度靈敏的稱量單元免受空氣流動的影響，創造更穩定的稱量環境。其量程較大，梅特勒托利多 XPR 微量分析天平量程（chéng）高達 52g，且（qiě）最小稱量（liàng）值小，適合將小樣品直接稱入大去皮容器中。
應用：常用於化（huà）學和元素分析、濾紙稱量以及涉及少（shǎo）量（liàng）稀有、貴重、有毒或強效物（wù）質的應用。
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